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q=%E6%A1%91%E8%BF%AA%E6%99%AEK.&searchType=standard&isFacet=true&view=standard&rows=10&sortWay=score&sortOrder=desc&searchWay0=marc&logical0=AND
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桑迪普K.
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主题
cmos电路
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纳米材料
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著者
(美)桑迪普 k. 戈埃尔(sandeep k. goel), (印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂(krishnendu chakrabarty)主编
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戈埃尔
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查克拉巴蒂
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桑迪普 k
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科瑞申恩度
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出版日期
2016
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图书
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1.
纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
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著者:
桑迪普 K. 戈埃尔
科瑞申恩度 查克拉巴蒂
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2016.1
文献类型:
图书 , 索书号:
TN432/34
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