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Test Conference.
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1.
International Test Conference, 1991 :: proceedings.
订购中
著者:
出版社:
The Conference,
出版日期: c1991.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/I61T
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2.
International Test Conference :: proceedings : the three faces of test : design, characterization, production /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Committee
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Pr.,
出版日期: c1984.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/I61T
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3.
International Test Conference, 1988 :: proceedings.
订购中
著者:
出版社:
The Conference,
出版日期: c1988.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/I61T-1988
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4.
HAZARDOUS SOLID WASTE TESTING:FIRST CONFERENCE /
订购中
著者:
Conway R.A.
Malloy C.B.
出版社:
American Society for Testing and Materials,
出版日期: 1981
文献类型:
图书 , 索书号:
X7/C767
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5.
Testing's impact on design & technology :: International Test Conference, 1986, proceedings, September 8, 9, 10, 11, 1986 /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society [and] IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Press,
出版日期: c1986.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/I61T
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6.
The future of test :: International Test Conference, 1985 proceedings, November 19, 20, 21, 1985 /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society
IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Press,
出版日期: 1985.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/I61T
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7.
Meeting the tests of time :: International Test Conference 1989 proceedings : August 29-31, 1989 : Sheraton Washington Hotel, Washington, DC /
订购中
著者:
sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section.
出版社:
IEEE Computer Society Press ,
出版日期: c1989.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/I61T
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8.
Automatic testing 81 & test instrumentaion :: Metropole Convention Centre, Brighton, England, 7-10 December 1981 /
订购中
著者:
supported by the IERE
the IQA
the Society of Test Engineers and the Journals TEST and NEW ELECTRONICS.
出版社:
Network,
出版日期: c1981.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/A939A
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9.
IEEE 1979 semiconductor test conference /
订购中
著者:
SI & Boards.
出版社:
Cherry Hill,New Jersey,
出版日期: 1979.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.87233083/I59
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10.
Automatic testing 80 :: proceedings of AUTOMATIC TESTING '80 Conference, 23-25 September 1980 /
订购中
著者:
supported by the IERE
the IQA
the IEE
the Society of Test Engineers and the Journals TEST and NEW ELECTRONICS.
出版社:
Network,
出版日期: 1980.
文献类型:
图书 , 索书号:
73.865083/A939
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